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EMI試驗EMI（Electro Magnetic Interference)電磁干擾
2014-12-05 來源： 作者：正航儀器 閱讀：次
EMI試驗EMI（Electro Magnetic Interference)電磁干擾
試驗目的: 驗證電磁波與電子元件作用后而產生的干擾現象，有傳導干擾和輻射干擾兩種。傳導干擾是指通過導電介質把一個電網絡上的信號耦合(干擾)到另一個電網絡。輻射干擾是指干擾源通過空間把其信號耦合(干擾)到另一個電網絡，在高速PCB及系統設計中，高頻信號線、集成電路的引腳、各類接插件等都可能成為具有天線特性的輻射干擾源，能發射電磁波并影響其他系統或本系統內其他子系統的正常工作。
試驗設備: 電磁干擾發生器
試驗樣品: 3PCS
試驗內容：①.連續干擾電壓（150kHz～30MHz）;
②. 斷續干擾電壓（喀嚦聲）（150kHz、500kHz、1.4 MHz和30MHz）;
③. 干擾功率（30MHz～300MHz）
④．諧波電流（2～40次諧波）
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粵公網安備 44190002001231號