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    PCT老化試驗機用途： 　　試驗箱磁性材料檢測的新寵，用磁性材料改進的存儲器稱為磁電隨機存取存儲器(M eRAM)。它極有可能被用來制造未來的存儲芯片，這樣的芯片既可以用在幾乎所有的電子應(yīng)用，包括智能手機、平板電腦、計算機及微處理器中，也可以用于數(shù)據(jù)儲存，例如計算機和大型數(shù)據(jù)中心使用的固態(tài)硬盤中。 ...

    高壓加速老化試驗箱使用的環(huán)境要求： ▲、地面平整，通風良好，不含易燃、易爆、腐蝕性氣體和粉塵。　 ▲、附近沒有強電磁輻射源。　 ▲、設(shè)備周圍留有適當?shù)木S護空間。　 ▲、溫度：5℃～30℃（24小時內(nèi)的平均溫度≤30℃）。　 ▲、相對濕度：≤85%RH（夏季使用要開啟空調(diào)）　　 ▲、氣壓：86～106kpa。 ...

    產(chǎn)品名稱：PCT高壓加速老化試驗 我司在PCT高壓加速老化試驗箱內(nèi)膽，為了能夠更加好的符合國家安全容器標準,，帶有復(fù)合可以防止試驗結(jié)露滴水現(xiàn)象，能夠避免產(chǎn)品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結(jié)果的PCT高壓加速老化試驗箱內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計,從而避免配備雙層不銹鋼產(chǎn)品架,也可根據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格尺寸免費量身定制專用產(chǎn)品架。 ...

     高壓加速老化試驗箱主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應(yīng)力與工作應(yīng)力，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。 ...