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相關(guān)介紹 集成電路板大型步入式高低溫交變濕熱試驗(yàn)室
集成電路板大型步入式高低溫交變濕熱試驗(yàn)室-正確評(píng)定設(shè)備的可靠性
☆、評(píng)定設(shè)備可靠性的特征童可以用平均無故障工作時(shí)間（MTBF)。一般來說，設(shè)備的平均無故障工作時(shí)間越長(zhǎng)，可靠性水平越高。但是在評(píng)定某一種設(shè)備可靠性水平時(shí)，或者在比較各類設(shè)備的可靠性水平時(shí),還不能單從MTBF數(shù)值的大小來衡量,還要做一些具體分析。例如，統(tǒng)一規(guī)定置信區(qū)間80%，電視的MTBF驗(yàn)證值的下限值普遍在1 000~3 000 h以上，有些公司的某些產(chǎn)品已達(dá)到7 000 h至10 000 h，有些移動(dòng)通信設(shè)備才達(dá)到800 h左右，某些航空通信設(shè)備及雷達(dá)僅達(dá)到幾彳-小時(shí)至幾百小時(shí)。能否說這些通信機(jī)和雷達(dá)的可靠性水平就比電視機(jī)的可靠性水平低呢？顯然不能。又如三家電視機(jī)廠，甲工廠說它的電視機(jī)MTBF驗(yàn)證值是4 000 h，乙工廠說它的電視機(jī)MTBF驗(yàn)證值3 000 h，丙工廠說它的電視機(jī)MTBF驗(yàn)證值是2000 h，能否說這三家電視機(jī)廠的電視機(jī)的可靠性甲廠比乙廠的好，乙廠又比丙廠的好呢？顯然也不能。嚴(yán)格地講，對(duì)不同類型的電子設(shè)備或同一種類型的電視機(jī)光看MTBF數(shù)值是沒有可比性的，不能完全客觀地評(píng)定設(shè)備的可靠性水平。其根本原因在于影響設(shè)備可靠性及影響設(shè)備可靠性試驗(yàn)結(jié)果的因素是很多的,應(yīng)根據(jù)具體的情況進(jìn)行全面的分析和評(píng)價(jià)。現(xiàn)就幾個(gè)主要方面作簡(jiǎn)單闡述。
集成電路板大型步入式高低溫交變濕熱試驗(yàn)室濕度范圍
☆、30～98％R.H（可交變濕度范圍：45～98％R.H）
集成電路板大型步入式高低溫交變濕熱試驗(yàn)室使用材料
☆、集成電路板大型步入式高低溫交變濕熱試驗(yàn)室外箱材質(zhì) 優(yōu)質(zhì)碳素鋼板.磷化靜電噴塑處理
☆、內(nèi)箱材質(zhì) SUS304不銹鋼優(yōu)質(zhì)光板
☆、保溫材質(zhì) 聚胺脂硬質(zhì)發(fā)泡 制冷系統(tǒng)
集成電路板大型步入式高低溫交變濕熱試驗(yàn)室波動(dòng)均勻度
☆、≤±0.5℃/ ≤±2℃
☆、集成電路板大型步入式高低溫交變濕熱試驗(yàn)室控制器
☆、集成電路板大型步入高低溫交變濕熱試驗(yàn)室進(jìn)口可編程觸摸式液晶中文對(duì)話式顯示，微電腦集成控制器
集成電路板大型步入式高低溫交變濕熱試驗(yàn)室精度范圍
☆、大型步入式試驗(yàn)室設(shè)定精度：溫度±0.1℃、濕度±1％R.H，指示精度：溫度±0.1℃、濕度±1％R.H
集成電路板大型步入式高低溫交變濕熱試驗(yàn)室溫度范圍；
☆、-40℃～80℃(可交變溫度范圍：-40℃～60℃ ）
集成電路板大型步入式高低溫交變濕熱試驗(yàn)室試驗(yàn)的目的
☆、為評(píng)價(jià)分析電子設(shè)備的可靠性,在使用現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行的可靠性試驗(yàn)稱為現(xiàn)場(chǎng)可靠性試驗(yàn)。通過現(xiàn)場(chǎng)可靠性試驗(yàn)可以真實(shí)地反映出產(chǎn)品在實(shí)際使用條件下的可靠性水平。人工模擬可靠性試驗(yàn)對(duì)產(chǎn)品實(shí)際使用條件的模擬正確與否,有待實(shí)際使用或現(xiàn)場(chǎng)可靠性試驗(yàn)來驗(yàn)證。有許多情況是在人工模擬試驗(yàn)中沒有發(fā)現(xiàn)的問題,而在實(shí)際使用中或現(xiàn)場(chǎng)可靠性試驗(yàn)中會(huì)暴露出來。這是因?yàn)槿斯つM試驗(yàn)因受試驗(yàn)條件的限制，還不能完全逼真地模擬設(shè)備現(xiàn)場(chǎng)的使用條件。而在實(shí)際使用中，有時(shí)幾種環(huán)境應(yīng)力同時(shí)作用,它對(duì)設(shè)備所帶來的影響是復(fù)雜的,比較全面的，不是一般人工模擬所能達(dá)到的。因此,現(xiàn)場(chǎng)可靠性試驗(yàn)應(yīng)該是可靠性工程實(shí)施程序中的重要內(nèi)容。現(xiàn)場(chǎng)可靠性試驗(yàn)還可以彌補(bǔ)目前綜合環(huán)境條件模擬設(shè)備之不足。對(duì)于大中型電子設(shè)備或某些確有特殊要求的電子設(shè)備的可靠性鑒定試驗(yàn)和驗(yàn)收試驗(yàn)，可以采用或插人短期的現(xiàn)場(chǎng)可靠性試驗(yàn)。所以，有的時(shí)候現(xiàn)場(chǎng)可靠性試驗(yàn)成為設(shè)備可靠性實(shí)施程序中的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。一般來說，通過現(xiàn)場(chǎng)可靠性試驗(yàn)可以達(dá)到如下目的。
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